TranCT-215是针对光子芯片在片级、封装、集成等检测环节对其传输损耗进行分布式测量而开发的一款系统。该系统具有超高的损耗探测动态范围和灵敏度，超高的空间分辨率和损耗事件定位精度。同时，该设备兼顾优异的控制软件开发能力，提供更灵活的硬件及软件搭配方案，对集成至任何已搭建的光子芯片测试平台具有极高的适应能力。

产品特点：

测试光波段可灵活定制

空间分辨率高达20um

回损测试灵敏度可达-135dB

回损测试动态范围80dB

插损测试动态范围18dB

支持定制化软件开发

硬件+软件集成方案灵活

典型应用：

光子芯片传输损耗测量

芯片内损耗事件定位分析

光组件内部光链路损耗分析

芯片内光链路延时测量