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YQ2019001 | LUNA OBR4600背光反射计技术特征

作者: 来源: 日期:2019-03-06 浏览:114次

一、产品介绍

LUNA公司的OBR4600是光纤背光反射计系列产品之一。用于光器件/模块和短距离光网络的测试和故障排除。OBR4600超高空间分辨率是基于瑞利背向散射的高探测灵敏度,空间分辨率达到10微米,零死区,能够集成温度和应变测试,最大测试距离2kmOBR4600提供卓越的测试结果和故障排除功能,在短时间内快速获取所需参数。

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目前市场上对于损耗的测试,主要有OTDR技术和基于OFDR技术的OBR背光反射计。OTDR技术的主要特点是测试距离长,从几十米到几十公里,常用于光缆或者光网络的施工测试,普通OTDR测试设备的空间分辨率在米级。空间分辨率如果在0.1m~0.01m范围内,则需要使用价格昂贵的高分辨率OTDR测试设备。在目前的成熟产品中,只有OBR背光反射计能够在2公里范围内实现毫米级空间分辨率,最高可以达到um级空间分辨率。从技术角度上分析,只有OFDR技术才能够实现高空间分辨率的分布式损耗测试。

二、区别于其他设备的优势

1、分布式损耗测试

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OBR4600背光反射计能够测试整个光路上的损耗和缺陷分布情况,而且使用单端即可进行连接测试。常规损耗测试是对比输入端和终端输出两者的差异,只能获取总损耗值大小,而不能确定出现损耗的位置,不利于分析和追踪。而OBR4600的插损测试动态范围达到18dB,分辨率0.05dB,回损测试动态范围是70dB,分辨率0.05dB。其分布式损耗测试技术独具特色。

2、高空间分辨率

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OBR4600背光反射计空间分辨率最高能够达到10um,这是任何一台设备都不具备的测试能力。其最典型应用是在快速接插件中检测端子质量,如上图所示,接插件出现故障以裂纹为主,mm级以上的断裂能够被明显测试到,而mm级裂纹的损耗往往决定了信号通过的质量。在光器件中,如WDMPLCspliter;除此之外,进行损耗区域放大之后,可以根据损耗特性分布情况,推断故障发生的类型。

而在硅光研究领域,OBR4600更是进行测试必不可少的设备,其测试性能得到了Blumenthal and Bowers Optoelectronics Research Groups的认可,并在硅光器件上进行了测试应用,国内上海中科院在对硅光的研究中,也认可该设备的高空间分辨率性能。

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3、兼容多模器件测试

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除了对单模光纤进行测试之外,OBR4600也可以用于多模光纤的性能测试,对于通讯测试具有重要意义。

4、可用于产线自动化测试


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    背光反射计软件人机交互界面简单,测试结果存储方便,而在生产线测试应用中,可自动设置测试位置和阈值检测标准,极大提高工作效率,避免人工操作带来的误差。


三、技术特征

背光反射计主要具有以下的技术特征

1. 定位并诊断光纤的弯曲、熔接、连接和断裂等各类故障

2. 定位短距离光网络中所有存在插入损耗的位置

3. 检查器件内部评估每一个连接处的RLIL

4. 7s之内,能够以10微米的分辨率测量30m的光纤

5. 最高以3Hz的连续频率测量1m的光路

6. 测试和排除短距离光网络故障(<2km

7. 光纤组件的自动检验

8. 监测光网络或光模块内部温度或应变的分布情况

背光反射计的主要性能优势如下所示:

1. -130dB的灵敏度

2. 70dB的动态范围

3. 2km测量范围内零死区

4. 小于0.05dB的插损分辨率



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