装置内置基于Pentium处理器的专用主板，配置专用的电路及数据采集电路，驱动相关的硬件，实现控制及数据采集，主要用于日常的基本测试。

装置用于测试光纤的几何参数。

1、光纤包层几何尺寸测试重复性（光纤端面切割角度≤1.5度）

纤芯直径：≤0.02um（单模）、≤0.10（多模）

纤芯不圆度：≤0.5%（单模）、≤1.0（多模）

包层直径：≤0.05um

包层不圆度：0.05%

芯、包同心度：≤0.01um（单模）、≤0.05（多模）

2、光纤涂覆层几何尺寸测试重复性（光纤涂覆层折射率差值≥0.04、并可透过970nm光源，直径≤260um）

涂覆层直径：≤0.5um

包层、涂覆层同心度：≤0.5um

涂覆层不圆度：≤0.5%